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| Citas | 19047 | 15927 |
| Índice h | 69 | 62 |
| Índice i10 | 349 | 312 |
Coautores
Xiong Wen (David) LOUProfessor, Nanyang Technological UniversityDirección de correo verificada de ntu.edu.sg
Hao Bin WU 吴浩斌Professor, Zhejiang UniversityDirección de correo verificada de zju.edu.cn
Hongyi Xu (Justin)Researcher, Stockholm UniversityDirección de correo verificada de mmk.su.se
Lei TanPurdue UniversityDirección de correo verificada de purdue.edu
Nian LiuGeorgia Institute of TechnologyDirección de correo verificada de chbe.gatech.edu
Bao Yu XiaHuazhong University of Science and TechnologyDirección de correo verificada de hust.edu.cn
Yong HuZhejiang Normal UniversityDirección de correo verificada de zjnu.edu.cn
John DrennanThe University of QueenslandDirección de correo verificada de uq.edu.au
Jing Wei 魏晶Xi'an Jiaotong UniversityDirección de correo verificada de xjtu.edu.cn
Lei ZhangProfessor, School of Chemistry & Chemical Engineering, South China University of TechnologyDirección de correo verificada de scut.edu.cn
Yanan GuoSamsung Austin SemiconductorsDirección de correo verificada de samsung.com
Liang ZHOU
Dirección de correo verificada de uq.edu.au